検査オープン・ショートの測定打痕 “A”箇所のオープン・ショート測定打

検査
オープン・
ショートの
測定打痕
“A”箇所のオープン・ショート測定打痕
ではFPC破損無、部品実装影響が無きこと
“B”箇所のオープン・ショート測定打痕
ではFPC破損無、PI面突起では限度見本
にて管理すること。
そのほか箇所のオープン・ショート測定
打痕では、銅露出が無きこと。

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การตรวจสอบเปิดสั้นบุ๋มที่วัด คมเปิดพื้นที่วัดระยะ "A"ที่ FPC ทุจริตโดยไม่มีการใช้งานคอมโพเนนต์โดยไม่ คมเปิดพื้นที่วัดสั้น "B"แต่ FPC ทุจริต โดย PI กระบวนการจำกัดค้าในในการบริหารจัดการที่ เปิดสถานอื่น ๆ การวัดระยะสั้นไม่มีในแสง dents ทองแดง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตรวจสอบ
เปิด
สั้น ๆ ของ
บุ๋มวัด
ระดับ "A" ที่วัดเปิดสั้นบุ๋มของ
หมู่ความเสียหาย FPC องค์ประกอบที่มีอิทธิพลต่อการติดตั้งอื่น ๆ ที่เป็น
"B" บุ๋มวัดที่เปิดสั้น ๆ ของ
หมู่บ้านในการทุจริต FPC ในประมาณการพื้นผิวพีไอ ตัวอย่างขีด จำกัด
ที่จะได้รับการจัดการโดย
วัดเปิดสั้น ๆ ของสถานที่อื่น ๆ
ในบุ๋มว่าการสัมผัสทองแดงหมดอายุ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การตรวจสอบเปิดสั้น ๆประเมินความเสียหาย" วัดเปิด / สั้นที่ "โดย FPC โดยไม่เกิดความเสียหาย ผลโดยไม่ต้องติดตั้งส่วนประกอบ" วัดเปิด / สั้นที่ B "โดย FPC จำกัด โดยไม่มีความเสียหายและประมาณการพื้นผิวตัวอย่างในการจัดการการวัดตำแหน่งสั้นเปิดอื่น ๆถ้าไม่มีมัน ทองแดงสัมผัส